掃描電鏡長時間連續采集圖像時，會出現二次電子信號衰減現象。現象表現為同一觀測區域圖像亮度逐步變暗，圖像信噪比持續下降，細微形貌特征逐漸模糊，反復在同一位置長時間掃描時該現象會快速加劇。不同品牌設備的探測器、收集極電壓設置以及真空腔體本底環境參數存在明顯差異，在低加速電壓觀測時，設備之間信號衰減速率區別更加顯著。

成因：電子束持續轟擊樣品表面，誘發表面碳污染沉積，碳層會阻擋二次電子逸出；樣品表面吸附的水汽、碳氫化合物在電子束作用下發生分解，持續在掃描區域形成絕緣薄膜；探測器長期工作溫度漂移，二次電子收集效率緩慢降低。

改善方案：提升腔體真空度，充分對樣品做預除氣處理，減少樣品表面揮發性雜質；降低長時間觀測區域的電子束束流，縮短單點持續掃描時長；定期清潔腔體與探測器，校準探測器收集電壓；對比不同設備本底污染水平，優先選擇低本底腔體配置的機型。