SEM 掃描電鏡樣品制備注意事項(xiàng)
日期:2026-04-17
掃描電鏡(SEM)的成像質(zhì)量,很大程度取決于樣品制備是否規(guī)范。正確制備不僅圖像清晰,還能保護(hù)設(shè)備不受污染、延長(zhǎng)使用壽命。
樣品必須保持干燥、潔凈、無(wú)松散顆粒。潮濕樣品會(huì)在真空下釋放氣體,導(dǎo)致真空度下降、成像漂移,還會(huì)污染腔體和探頭。表面油污、灰塵會(huì)掩蓋真實(shí)結(jié)構(gòu),造成圖像模糊、異常亮點(diǎn)。
導(dǎo)電性差的樣品必須做導(dǎo)電處理,否則會(huì)出現(xiàn)電荷積累,表現(xiàn)為圖像發(fā)亮、漂移、閃爍或細(xì)節(jié)丟失。處理時(shí)要均勻覆蓋,避免過(guò)厚掩蓋微觀結(jié)構(gòu)。
樣品大小和高度要符合設(shè)備要求,固定必須牢固,防止在抽真空過(guò)程中松動(dòng)、脫落,損壞探頭和內(nèi)部組件。樣品高度不宜過(guò)高,避免撞擊鏡頭。
粉末樣品需均勻分散,不堆積、不脫落,必要時(shí)使用導(dǎo)電膠固定,防止粉末被吸入設(shè)備內(nèi)部造成故障。
樣品制備完成后盡快觀測(cè),減少在空氣中暴露時(shí)間,避免氧化或二次污染,保證成像真實(shí)、穩(wěn)定。
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作者:澤攸科技
