如何避免樣品在掃描電鏡中受到輻射損傷？
要避免樣品在掃描電鏡（SEM）中受到輻射損傷，可以采取以下措施：
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2023-10-10
要避免樣品在掃描電鏡（SEM）中受到輻射損傷，可以采取以下措施：
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2023-10-10
在選擇適合的探針和檢測(cè)器進(jìn)行掃描電鏡（SEM）分析時(shí)，需要考慮要研究的樣品性質(zhì)、所需分辨率、表面拓?fù)涮卣骱退栊盘?hào)類(lèi)型。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2023-10-10
10月8日，安徽省科學(xué)技術(shù)廳發(fā)布了《關(guān)于首批安徽省企業(yè)研發(fā)中心擬認(rèn)定名單的公示》，本次全省共有355家企業(yè)經(jīng)遴選推薦審核后通過(guò)安徽省企業(yè)研發(fā)中心的評(píng)定。
MORE INFO → 公司新聞 2023-10-10
EDS（能譜分析）是一種在掃描電鏡中常用的分析技術(shù)，它的主要作用是通過(guò)檢測(cè)樣品產(chǎn)生的X射線來(lái)進(jìn)行元素分析。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2023-10-08
掃描電鏡中的低真空模式是一種操作模式，通常用于特定樣品或情況下，具有一些特定的作用和優(yōu)勢(shì)：
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2023-10-08
掃描電鏡在材料疲勞和斷裂分析中發(fā)揮了關(guān)鍵作用。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2023-10-07
在掃描電鏡（SEM）中實(shí)現(xiàn)高分辨率的斷層和晶體缺陷檢測(cè)通常需要使用一些技術(shù)和儀器。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2023-10-07
9月22日~24日，由中科院物理所表面物理國(guó)家實(shí)驗(yàn)室、澤攸科技、松山湖材料實(shí)驗(yàn)室聯(lián)合舉辦的“2023原位電鏡技術(shù)與應(yīng)用研討會(huì)暨澤攸科技用戶交流會(huì)”在廣東惠州成功舉辦。
MORE INFO → 公司新聞 2023-09-27